高分子ESD,emc电磁兼容,esd静电防护,esd系统

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222025-09

ESD管、TVS管焊接失误会引发什么故障？-ASIM阿赛姆 ESD/TVS管焊接失误（虚焊、偏移、过热等）直接导致器件泄放路径中断或电气参数劣化，引发系统ESD防护失效、信号短路及芯片击穿，实测故障率最高提升35%，需通过X光检测、热成像及焊点金相分析精准定位缺陷。
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192025-09

ESD管响应慢，怎样与TVS管配合优化防护？-ASIM阿赛姆 TVS管前置扛浪涌冲击（响应0.1ns），高分子ESD管后级精准钳位（响应0.2ns），通过电压梯度设计（Vclamp_TVS≤0.9×VBR_ESD）与≤5mm级联间距，将防护响应速度提升至0.3ns级。
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182025-09

USB3.0接口ESD管选型要点有哪些？-深圳阿赛姆 解析USB3.0接口ESD保护器件选型三大核心要点：超低结电容、精准钳位电压、高浪涌能力，附PCB布局规范、量产验证方案及推荐型号，直击信号衰减与静电失效痛点。
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172025-09

高速接口ESD管结电容过高影响信号怎么办？-深圳阿赛姆 解决USB/HDMI高速接口因ESD结电容导致的信号衰减问题！提供超低电容器件选型、π型滤波电路设计、PCB布局三大方案，附4K摄像机整改实测数据。
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162025-09

MOS管寄生电容过大？抑制方法与影响分析-深圳阿赛姆 寄生电容是高频MOS管应用的“隐形杀手”。通过优选低电容器件+强化驱动能力+有源米勒钳位三重手段，可降低开关损耗40%以上，提升系统效率3-5%。在200W以上功率系统中，优先考虑GaN或SiC器件（Coss降低80%），并采用开尔文布局控...
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152025-09

共模电感常见故障及快速排查方法-深圳阿赛姆 详解共模电感四大故障（温升/噪声失效/信号失真/断裂）的现场检测方法，提供磁饱和波形分析法、阻抗曲线实测步骤、眼图与S参数诊断技巧。
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122025-09

MOS管高频开关时，怎样减少功率损耗？-深圳阿赛姆 深度解析高频MOSFET损耗构成（公式拆解+实测数据），提供器件选型黄金参数表、驱动电路负压关断方案、LLC/ZVS软开关设计及PCB布局7大法则。
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112025-09

MOSFET过压击穿失效机制与雪崩能量设计规范-深圳阿赛姆 本文解析MOSFET过压击穿的雪崩失效机制，基于JEDEC JESD24标准详解雪崩能量（EAS）的测试方法（单脉冲UIS电路）与设计规范，提供工业电源及汽车电子的降额系数选择、热稳定性验证流程及典型案例改进方案，解决V(BR)DSS超限引发...