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电脑主机ESD整改案例-ASIM阿赛姆

来源：发布日期 2025-11-18 16:01:49浏览：-

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     近期收到某公司寄送的电脑主机样机，该设备在USB接口静电测试中表现出典型脆弱性：对D+/D-信号线进行±8kV接触放电时，防护器件失效导致USB控制芯片损坏，功能中断。

      值得注意的是，样机原有双向ESD保护器件在正压测试中表现正常，但负压冲击下频繁失效，且客户明确要求在不改变主板布局的前提下完成整改，同时不得影响USB数据传输性能。

      这一案例集中反映了高速接口静电防护中的常见设计误区，下文将完整呈现故障分析与验证过程。

一、客户需求：

静电接触放电测试直接对USB接口D+/D-电路，发现USB电路异常无法工作。

1. 希望在涉及改变主板布局情况下，进行整改。

2. 使USB接口电路D+/D-端可以通过静电测试±8KV。

3. 整改不能影响USB数据传输功能。

二、整改前测试

测试异常现象：测试结束后，样机的USB功能失效。

三、故障排除与现象分析

1. USB接口由RTS5411S芯片进行控制，在故障的样机上直接更换RTS5411S芯片，样机USB功能恢复，说明静电测试损坏RTS5411S芯片引起功能故障。

2. 对USB除D+/D-电路外其他电路进行接触放电测试，无故障现象。

3. 整改前USBD+/D-电路已经有双向ESD二极管，测试静电正压时无故障现象发生，测试静电负压时，故障频出。